СТАНДАРТНЫЕ ТЕСТОВЫЕ МЕТОДЫ ПРИ ТЕСТИРОВАНИИ ЦИФРОВЫХ МИКРОСХЕМ

Статьи на боковой панели

PDF
Опубликована апр 30, 2026

Главная статья

И.А. Молчанов
ФГАОУ ВО "НАЦИОНАЛЬНЫЙ ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ "МОСКОВСКИЙ ИНСТИТУТ ЭЛЕКТРОННОЙ ТЕХНИКИ",

Аннотация

Объектом исследования являются автоматизированные измерительные системы (тестеры) цифровых микросхем. Цель исследования заключается в разработке способов автоматизированного переноса тестируемых микросхем (объектов контроля) между такими системами. Одной из важных задач является конвертация тестовых методов. В рамках данной работы проведен анализ используемых в настоящее время тестеров, на основе которого составлено сжатое функциональное описание стандартных тестовых методов. Полученные в ходе исследования данные систематизированы и могут быть применены при разработке специализированного программного обеспечения, предназначенного для конвертации программ контроля изделий.

Подробнее

Как цитировать
МОЛЧАНОВ, И.А.. СТАНДАРТНЫЕ ТЕСТОВЫЕ МЕТОДЫ ПРИ ТЕСТИРОВАНИИ ЦИФРОВЫХ МИКРОСХЕМ. Международный журнал информационных технологий и энергоэффективности, [S.l.], v. 11, n. 4(66), p. 090-098, апр. 2026. ISSN 2500-1752. Доступно на: <http://openaccessscience.ru/index.php/ijcse/article/view/1267>. Дата доступа: 04 июня 2026
ABNT APA BibTeX CBE EndNote - формат EndNote (Macintosh & Windows) MLA Формат ProCite - RIS (Macintosh & Windows) RefWorks Формат Reference Manager - RIS (только Windows) Turabian
Выпуск
Том 11 № 4(66) (2026)
Раздел
Информационные технологии
Лицензия Creative Commons

Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution-NonCommercial-ShareAlike» («Атрибуция — Некоммерческое использование — На тех же условиях») 4.0 Всемирная.

Неисключительные права на статью передаются журналу в полном соответствии с Лицензией Creative Commons By-NC-SA 4.0 (Международная)